恒溫恒濕試驗(yàn)箱校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類

作者：CEO 時(shí)間：2023-04-13 點(diǎn)擊：0

信息摘要：在日常的溫度

、濕度檢測(cè)和校準(zhǔn)過程中

，我們會(huì)經(jīng)常遇到各式各樣的恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備的檢測(cè)與校準(zhǔn)

，其中有高溫試驗(yàn)箱(房)

、干燥箱、培養(yǎng)箱

、真空箱

、低溫試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱(房)

、恒溫恒濕試驗(yàn)箱

、交變濕熱試驗(yàn)箱(房)、鹽

恒溫恒濕試驗(yàn)箱校準(zhǔn)的標(biāo)準(zhǔn)分類

　　在日常的溫度

、濕度檢測(cè)和校準(zhǔn)過程中

，我們會(huì)經(jīng)常遇到各式各樣的恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備的檢測(cè)與校準(zhǔn)，其中有高溫試驗(yàn)箱(房)

、干燥箱

、培養(yǎng)箱、真空箱

、低溫試驗(yàn)箱

、高低溫試驗(yàn)箱(房)、恒溫恒濕試驗(yàn)箱

、交變濕熱試驗(yàn)箱(房)

、鹽霧試驗(yàn)箱等各種環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備。

　　在以上各式各樣的恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備檢測(cè)與校準(zhǔn)的依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)也有多種多樣其中可以分為以下三類:

　　(1)電子工業(yè)部第五研究所編寫的GB/T5170.1一1995《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則》

、GB/TS170.2-19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備》GB/T5170一19%《電工電子產(chǎn)品恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備等》

。

　　(2)河北省計(jì)量科學(xué)研究院.編寫的JF1101一2003《恒溫恒濕試驗(yàn)設(shè)備溫度、濕度校準(zhǔn)規(guī)范》

　　(3)機(jī)械電子工業(yè)部編寫的GBI1158一1989《高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB一1989《低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

、GB一1899《高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》GB-1989《鹽霧試驗(yàn)箱技術(shù)條件》等

。

　　瑞凱恒溫恒濕試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)：

　　GB/T-1989低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

　　GB/T-1989濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件；

　　GB/T-1989高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

；

　　GB2423.1-89低溫試驗(yàn)Aa,Ab

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